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GBW13955GaAs,AlAs超晶格标准物质,GBW13955多层膜膜厚掠入射X射线反射技术
发布时间：2019/11/13 8:49:22 浏览次数：601
GBW13955GaAs,AlAs超晶格标准物质,GBW13955多层膜膜厚掠入射X射线反射技术
英文名称 Multi-layer thin film thickness CRM of GaAs/AlAs superlattice 标准物质证书英文
应用领域 工程技术及高聚物/其它 保存条件 真空包装，阴凉、干燥处存放 使用注意事项 样品为一次性样品，开封后立即使用。 特征形态 固态 基体
主要分析方法 掠入射X射线反射技术（计量标准装置）# 定值单位
规格 每包装为一片，20mm×20mm 量值信息
标准值 不确定度 单位 CAS 备注 胶质层最大厚度氧化层 （0.98）
(mm)
胶质层最大厚度第一层 （20.12）
(mm)
胶质层最大厚度第二层 10.60 0.18 (mm)
胶质层最大厚度第三层 10.06 0.20 (mm)
胶质层最大厚度第四层 10.58 0.18 (mm)
胶质层最大厚度第五层 10.07 0.18 (mm)
胶质层最大厚度第六层 10.58 0.18 (mm)
