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二氧化硅薄膜膜厚标准物质编号GBW13957,GBW13957二氧化硅薄膜膜厚质控样
发布时间：2019/11/14 9:03:08 浏览次数：812
二氧化硅薄膜膜厚标准物质编号GBW13957,GBW13957二氧化硅薄膜膜厚质控样
英文名称 Thin Film Thickness CRM of SiO2/Si 应用领域 物理学与物理化学/光学特性 保存条件 真空包装，阴凉、干燥处存放 使用注意事项 样品开封使用应保证取样工具等洁净，避免样品沾污。 特征形态 固态 基体
主要分析方法
规格 外包装为铝箔真空袋，每包装为一片，20 mm乘以20 mm 量值信息
标准值 不确定度 单位 CAS 备注 二氧化硅薄膜 12.56 0.30 膜厚（nm）
