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GBW13964氮化硅薄膜膜厚标准物质,GBW13964氮化硅薄膜膜厚标准样品
发布时间：2019/11/26 10:10:00 浏览次数：620
GBW13964氮化硅薄膜膜厚标准物质/GBW13964氮化硅薄膜膜厚标准样品
英文名称 Thin Film Thickness CRM of Si/Si3N4 应用领域 物理学与物理化学/光学特性 保存条件 真空包装，阴凉、干燥处存放 使用注意事项 样品开封使用应保证取样工具等洁净，避免样品沾污。 特征形态 固态 基体
主要分析方法
规格 外包装为铝箔真空袋，每包装为一片，20 mm乘以20 mm 量值信息
标准值 不确定度 单位 CAS 备注 氮化硅薄膜膜厚 205.0 1.5 nm
