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GBW13965二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质,GBW13965二氧化硅纳米薄膜厚度标准样
发布时间：2019/11/27 6:33:43 浏览次数：683
GBW13965二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质,GBW13965二氧化硅纳米薄膜厚度标准样
英文名称 CRMs for Thickness of SiO2 Nanosized Thin Layers 标准物质证书英文
应用领域 物理学与物理化学/光学特性 保存条件 贮存在阴凉干燥的室温环境条件下 使用注意事项 运输过程中必须保持包装的完整，使用过程中必须保持样品表面清洁 特征形态 固态 基体
主要分析方法 掠入射X射线反射测量和椭偏测量# 规格 每盒1片 量值信息
标准值 不确定度 单位 CAS 备注 二氧化硅纳米薄膜厚度 9.92 0.40 nm
