GBW13966二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质,GBW13966二氧化硅纳米薄膜厚度质控样
发布时间：2019/12/3 10:09:58 浏览次数：696
GBW13966二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质,GBW13966二氧化硅纳米薄膜厚度质控样，GBW13966标准物质主要用于校准仪器和装置;评价方法;工作标准;质量保证/质量控制，贮存在阴凉干燥的室温环境条件下，输过程中必须保持包装的完整性，每盒1片。
量值信息
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标准值
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不确定度
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单位
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CAS
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备注
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二氧化硅纳米薄膜厚度
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16.24
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0.28
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nm
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