发布时间：2019/12/4 8:37:36 浏览次数：655
GBW13967二氧化硅纳米薄膜厚度分析样主要用于物理学与物理化学/光学特性，贮存在阴凉干燥的室温环境条件下，运输过程中必须保持包装的完整，使用过程中必须保持样品表面清洁，主要分析方法是掠入射X射线反射测量和椭偏测量，每盒1片，量值信息如下：
量值信息
